Ускорение поиска дефектов цифровых устройств
Панков И.А.
Омский государственный технический университет, Омск
Ключевые слова: цифровые устройства, тестирование, ПЛИС, диагностика.
Аннотация. В работе рассмотрен вопрос ускорения поиска дефектов при реализации цифровых алгоритмов для программируемых логических интегральных схем(ПЛИС). Предложен алгоритм для сокращения объема тестовых испытаний. Приводятся результаты работы цифрового понижающего преобразователя(DDC). Автором предложен алгоритм на основе фаззинга для диагностики проектируемых сложных функциональных блоков на наличие в них дефектов.